(TSP-2000-MICR 微小材料電阻測試)
系統(tǒng)背景
電阻測試是表征材料特性的 常用測試手段,在某些應(yīng)用中,用戶需要進(jìn)行極端微小電阻(Ultra-low resistance)測試,例如納米材料,超導(dǎo)材料,繼電器開關(guān),低電阻材料、連接器的測試,或者精密的熱量測定和研究領(lǐng)域。這些被測件通常具有非常高的導(dǎo)電性和非常小的電阻阻值,對測試連接方案有很大挑戰(zhàn)。在進(jìn)行這類材料和器件的測試過程中,為了 大限度的降低被測設(shè)備的自熱效應(yīng),確保待測件的安全和測量的準(zhǔn)確性,通常會使用加流測壓的方式,在被測物兩端施加可控的微弱精密電流信號,通過歐姆定律測定被測件的電阻阻值。
上圖為融化斷裂的納米管,由于施加電流過大自熱引起斷裂
在微小電阻測試領(lǐng)域,泰克公司提供的微小電阻測試方案,通過使用吉時(shí)利高精度電流源622X(100fA~100mA 輸出可調(diào))或2400系列源表,以及納伏表2182A(1nV靈敏度)組合成為完備的測試解決方案,完美解決了在微小電阻測試過程中經(jīng)常遇到的問題,使電阻測量靈敏度高達(dá)10nΩ。
配合泰克公司方案合作伙伴提供的上位機(jī)軟件和測試夾具,可以一站式解決用戶在儀表與待測件連接,測試結(jié)果存儲,以及數(shù)據(jù)分析過程中遇到的繁雜問題,提高測試效率。
622X 電流源輸出的電流分辨率 高可以達(dá)到100fA,可以精確控制加載在待測件兩端的電流大小,確保待測件處在安全狀態(tài)下
• 更先進(jìn)的測試方法,消除熱電動勢
可以使用Delta Mode模式消除,自動觸發(fā)電流源使信號極性交替變化,電流反向法消除了任何恒定的熱電失調(diào),確保測量結(jié)果反映真實(shí)電壓值,大幅度降低測量中的噪聲信號
• 交鑰匙方案設(shè)計(jì),可以提供完整的測試夾具方案和上位機(jī)數(shù)據(jù)采集處理軟件